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卓上型光干渉式膜厚測定システム ナノスペック6100

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卓上型光干渉式膜厚測定システム ナノスペック6100

卓上型光干渉式膜厚測定システム ナノスペック6100 /東朋テクノロジー株式会社

1986年販売開始以来20年間で、累計600台以上。
圧倒的納入実績を誇ります。日本の、また世界の半導体産業における膜厚膜質測定管理技術は、「世界標準機」とも呼べる当社製品により発展してきたものと確信しております。その長年の経験に裏付けられた確かな技術で御社をサポート致します。
国内総代理店(TEL)03-5812-2181

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