[an error occurred while processing this directive]

フィゾー型干渉計 “Intellium Asphere”

[an error occurred while processing this directive]
[an error occurred while processing this directive]
フィゾー型干渉計 “Intellium Asphere”

フィゾー型干渉計 “Intellium Asphere” /(株)日本レーザー

非球面だけでなく、球面または平面に対する高速、高解像度そして非接触の特性解析を実現します。
生産現場やプロセス・コントロールのアプリケーションに最適で、簡単な操作性と高効率、そして複数の表面計測アプリケーションに対応するフレキシビリティを、優れたコスト・パフォーマンスで提供します。
サブ・ナイキスト干渉分光(Sub-Nyquist Interferometry:SNI).と呼ばれる干渉分析方式を採用しています。SNIは従来のフェーズ・シフト干渉分光方式(Phase-Shifting Interferometry:PSI)で顕著な大きな波面スロープの計測に対する限界を解消。

>>詳しくはこちら
 
[an error occurred while processing this directive]

[an error occurred while processing this directive]