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ナノプローブ表面電気特性測定装置 UMP-1000-4P

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ナノプローブ表面電気特性測定装置 UMP-1000-4P

ナノプローブ表面電気特性測定装置 UMP-1000-4P /(株)ユニソク

・各プローブがアクチュエータとしてXYZ軸の制御が可能。半導体表面の任意位置で電気特性測定に最適です。
・小型、軽量で市販のSEMにも取り付け可能。
・超高真空、超低温環境でも動作可能。
・接触検知機能を追加いたしました。(オプション設定、ピエゾ抵抗型カンチレバーを使用)
・使いやすいユーザーインターフェース。ノートPCを使用して各プローブのXYZの動作も簡単に操作可能。
・特注案件にも柔軟に対応していますので、お気軽にご相談ください・・・プローブ数変更、走査型プローブ顕微鏡測定、その他

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