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可変周波数C-V測定器(LCRメータ)

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可変周波数C-V測定器(LCRメータ)

可変周波数C-V測定器(LCRメータ) /ハイソル?

半導体・FPD向けローコスト可変周波数LCRメータ。ケースレー半導体特性評価システム4200-SCS、又はPCにより制御・測定データ取得・リアルタイムプロットが可能です。4200-SCSのSMU(ソースメジャーユニット)又はGP-IB付きDC電圧源を使用し、DCバイアス電圧を印加する事によりC-V測定をはじめとする各種LCR測定を行う事が可能です。測定周波数帯により3機種をご用意しております。

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