サーモウェーブアナライザー TA ／セキテクノトロン(株)
産官学連携により誕生した接触熱抵抗の影響を受けない非接触方式の熱拡散率測定装置です。安定した測定精度と広いダイナミックレンジが特長で、面内方向と膜厚方向で熱物性が大幅に異なるグラファイトシートや熱配向性フィラー入り有機フィルムの測定に威力を発揮します。試料形状の自由度が高くサンプル内における部分測定も可能。スループットも高く、従来の測定法と比較して大幅な効率アップも見込めます。
>>詳しくはこちら
密着強度分析装置 ／ヤーマン㈱
本装置は従来の電子デバイスのみならず近年研究開発競争が激化するエネルギー関連や医療用デバイスでは各種薄膜技術が益々多様化し高度化する中、これら薄膜の重要物性である密着強度の定量的測定やその使用環境における信頼性や耐久性を数値化し保証することは大変重要であります。本装置はそのご要求を達成する唯一の手法として認知され、事実上の業界標準として普及が始まっています。
>>詳しくはこちら
スピン偏極イオン散乱分光装置 ／㈱オメガトロン
この装置により既存の手法では分析が困難であった表面・界面のスピン状態（磁気構造）分析が可能となります。用途としては、ＨＤＤ、ＭＲＡＭ（ＴＭＲ、ＧＭＲ）、磁気デバイス等のスピントロニクス、新規触媒の開発等です。この新規表面分析で新たな知見を得、研究開発に貢献します。デモ測定も承っており、スピン偏極イオン源、イオン散乱分光装置（ISS）だけでの販売も可能です。
>>詳しくはこちら
顕微フォトルミネッセンスマッピングシステム PLMicro ／ナノメトリクス・ジャパン株式会社
Waterloo社で生まれたこの技術は、PHILIPS，ACCENT，NANOMETRICSと受け継がれ、多くのユーザーにご愛好いただいております。ＲＰＭ２０００やＶｅｒｔｅＸとは異なり、極微小領域のマッピング測定を得意としている装置です。研究からプロダクション、幅広くご使用いただける装置です。
高精度X線回折マッピングシステム Vektor ／ナノメトリクス・ジャパン㈱
本装置は高分解能・高速Ｘ線回折マッピングシステムで、PHILIPS社から受け継いだ技術を、ACCENT社で再開発・最適化され，NANOMETRICSへと受け継がれました。Ｓi,Ⅲ－ⅤやＳｉＧｅなどの半導体プロセスの多くの要求に対応できるようにデザインされているシステムです。
>>詳しくはこちら
高速フォトルミネッセンスマッピングシステムVerteX ／ナノメトリクス・ジャパン㈱
この装置は、フォトルミネッセンスを超高速でマッピングする事ができる唯一のシステムです。
ＲＰＭ２０００タイプとは異なり、ロボットハンドリングオプションを選択することが出来るので、完全自動化に対応できるモデルです。また、自動化の他に次の特徴も兼ね備えておりますので、Ｒ＆Ｄからプロダクションまでご使用いただける装置です。
高速フォトルミネッセンスマッピングシステムRPM2000 ／ナノメトリクス・ジャパン㈱
この装置は、フォトルミネッセンスを超高速でマッピングする事ができる唯一のシステムです。従来の装置では成し得なかった、高密度マッピングをハイスル－プットで行えるシステムです。基板受け入れ、epi成長後の検査および評価または、Ｒ＆Ｄのツールとして数多く採用されており、事実上業界スタンダードの地位を確立したと言っても過言ではありません。
>>詳しくはこちら
ホール効果測定システム HL5500PC ／ナノメトリクス・ジャパン㈱
バイオラッド，アクセント，ナノメトリクスと受け継がれ、既に多くのユーザーにご愛好いただいておりますこのHL5500PCシリーズは、今日も新しいアプリケーションに採用されて続けております。初期に開発された技術は、常に安定した測定を提供し、さまざまな特徴は年代ごとの要求に対応することができます。また、特殊なご要求に対しても、その都度承っておりますので、お気軽にご相談ください。
>>詳しくはこちら
自動キャリア濃度測定システム ECVpro ／ナノメトリクス・ジャパン㈱
本装置は、電解液を用いたエレクトロケミカルＣＶ測定システムです。（水銀は使われておりません）
British Telecom で開発された技術は、POLARONで製品化され，BIO-RAD，ACCENT，NANOMETRICSと受け継がれて来ました。ECVprｏは、多くのユーザーにご愛好いただいておりますＰＮシリーズ キャリア濃度測装置(別名：ECVプロファイラー，SPPプロファイラー，ポラロン等と略称されている）を完全自動化したシステムです