分析機器

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英国HIDEN社 モデルMAXIM SIMS エネルギーアナライザ付二次イオン質量分析計

英国HIDEN社 モデルMAXIM SIMS エネルギーアナライザ付二次イオン質量分析計 /アステック(株)

分析部はトリプルフィルター型四重極質量分析計、イオン源には、リキッドメタルイオン源を採用した、マイクロスポットSIMSシステムです。イオン化室も備え二次中性粒子質量分析法(SNMS)でも使用可能。最小50nmの微小領域サンプル表面のPPMレベルの検出感度を得られると共に、深さ方向5nmの分解能が実現可能です。また、LabVIEWベースの3D SIMSイメージングソフトウェアが準備されています。システムにはロードロック、試料搬送、試料操作部を備え、最大50nm角までの試料のSIMS分析を可能にしています。エネルギ-アナライザ-付四重極質量分析計(モデルEQS)、Gaリキッドメタルイオン源などのコンポーネント販売も行います。ご相談ください。

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英国HIDEN社モデルEQP エネルギーアナライザー付質量分析計

英国HIDEN社モデルEQP エネルギーアナライザー付質量分析計 /アステック(株)

プラズマ診断ツールとして開発された、高透過率45度セクター型イオンエネルギーアナライザ付四重極質量分析計です。
このアナライザは、正イオン、負イオン、ラジカル及び中性粒子の詳細な分析に適しており、質量スペクトル、エネルギースペクトル及び出現電位スペクトルを得ると共に、各強度の時間変化をプロットすることができます。ラジカル分析に有効な、電子付着負イオン分析能も選択可能です。
高速データ処理(時間分解100nsec)により、過渡的な電源出力変化やアフターグローの時間的変化も、容易に分析することが出来ます。

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共振方式開放型共振器タイプシート用および極薄シート用ミリ波 比誘電率/誘電正接(εr/tanδ)測定装置・システム

共振方式開放型共振器タイプシート用および極薄シート用ミリ波 比誘電率/誘電正接(εr/tanδ)測定装置・システム /キーコム(株)

開放型共振器の一種のファブリペロー(Fabry-Perot)共振器を用いていますので、ミリ波領域での測定精度が高いとともに、試料の出し入れが簡単な薄膜対応測定装置です。tanδが小さい試料が測れることも特長です。
なお、Windows対応のコンピュータで自動計測いたします。
2004年にJIS規格に制定されました。 JIS R 1660-2

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微小硬度計 ナノインデンター

微小硬度計 ナノインデンター /ミワオプト(株)

ISO 14577に準拠、及びカスタム測定。バーコビッチ型, 半球型,キューブコーナー型インデンター、その他からデータ分析。力率, 歪み率コントロール。多元周波数フーリエ変換力学的測定。 小型で豊富なオプション。各種解析にも対応。

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エミッション・レーザー解析装置

エミッション・レーザー解析装置 /ハイソル㈱

エミッション、OBIRCH、発熱画像解析が1台で行なえます。ハイソル製のプローバーともドッキングができますので、トータルでサポートすることが可能です。

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みらくるシリーズ(小型放射光設備)、マイクロトロンシリーズ(大強度X線発生、電子ビーム発生装置)

みらくるシリーズ(小型放射光設備)、マイクロトロンシリーズ(大強度X線発生、電子ビーム発生装置) /(株)光子発生技術研究所

小型放射光発生装置である「みらくるRAY」は、従来の大型放射光設備でないと得られなかった大出力のX線を白色光にて発生致します。
X線管タイプと異なり単色化して様々な波長を得ることができますので、高精度X線画像、蛍光X線、EXAFS,小角散乱、回折など各種用途に適用できる高輝度光源です。
1MeVから20MeVまでのエネルギー領域をラインアップしており各用途に最適なモデルをご選択頂けます。また、入射器を電子線照射設備としてお使い頂くことも可能です。

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ハンディ元素分析器 MH-5000

ハンディ元素分析器 MH-5000 /(株)マイクロエミッション

新開発の液体電極プラズマ方式(特許取得済み)と小型分光器を採用することで、約1kgと小型軽量でありながらも、プラズマ発光分光分析を実現しました。アルゴンガスや大電力が不要なので、設置場所の制約が少なく、現場持込可能である。一回の測定は30~40μLの試料で十分であり、希少試料の分析にも活用できます。分析装置の部屋に通ったり、分析外注したりする時間が節約でき、研究効率が大きくアップします。また、製造業の工程管理ご担当にとっては、遠隔地を含めて製造ラインの様子を把握するために重要なツールとしての活躍が期待できます。

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CV/IV測定器および水銀プローブ

CV/IV測定器および水銀プローブ /ノヴァトレーディング

MDC社は、いち早く商用のC-Vプロッティングシステムを開発し、以後30年近くにわたり、C-V/I-Vプロッティングシステムを開発・製造・販売を行っている会社です。

・Low-k 素材の評価に最適
・802B型 水銀プローブ
測定時に電極の製作が不要な為、水銀プローブの需要が高まっています。MDC社では、水銀電極を単体でも販売しています。
・Low k膜の誘電率測定に最適
・ゲート電極不要 802型シリーズ水銀電極

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透過電子顕微鏡用 プリセッションユニット「SPINNING STAR」<br/>

透過電子顕微鏡用 プリセッションユニット「SPINNING STAR」
/(株)アド・サイエンス

本装置(Spinning Star)を接続することで従来の電子回折に比べて、回折像が運動学的となり反射の正しい輝度が取得できます。その為に、二つの重要な長所が得られます。先ず、回折像にある対称が正しく現れることで、結晶の対称も簡単に区別ます。そして、反射毎の輝度は正確に測定できるため専用ソフトウエアを利用することで、小さいナノ結晶から得られたデータだけで結晶の構造決定も可能になります。従来のX線のみ可能な技術はこのユニットを使うことで透過電子顕微鏡で微粒子を構造決定は出来るようになります。

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中古機器分析装置(X線分析・HPLC・ガスクロ・電子顕微鏡)各種と取扱い御座います。

中古機器分析装置(X線分析・HPLC・ガスクロ・電子顕微鏡)各種と取扱い御座います。 /(株)テイクオフ

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