高出力レーザー用光学部品 ／オプトテック(株)
CVI MellesGriot社など、高出力・高精度レーザー用光学部品を取扱っております。豊富な製品群よりご必要とされる光学部品をお選び頂くことが可能です。ご要求内容をお知らせ頂ければ、弊社より推奨製品をご提案させて頂くことも可能です。
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ナノインデンター Nanotest ／(株)テックサイエンス
ナノインデンターNANOTESTは、常温から高温環境までの薄膜やツールの機械特性が高精度に評価できる。硬度、ヤング率、接着度、粘弾性などの薄膜の機械的特性を常温と高温で、しかも高分解能にて評価できる。燃料電池、太陽電池セルの高温環境を設定できる。液中の試験も可能。ジュール方式なので組み合わせが自由でかつ随時アップグレードが可能。温度ドリフトが業界一小さく高精度高分解能が特徴。
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ピエゾフレクシャーステージ・スキャニングシステム ／ピーアイ・ジャパン(株)
・長寿命化セラミック（ＰＩＣＭＡ）採用（湿度対策を施したピエゾセラミック） ・最大1５００μmストローク ・1ナノメートル以下の分解能を誇る静電容量センサーを内蔵 ・大口径を有する一体構造型XY,XYZステージ ・摩擦及び粘着はありません ・超高真空、ベーキング可・微鏡対物レンズ用ポジショナー ・顕微鏡レボルバー用ポジショナー ・最大６軸一体型（１台のステージで１軸から多軸まで対応） ・バックラッシュもありません ・疲労、磨耗もありません ・非磁性対応
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積層型ピエゾ ／ピーアイ・ジャパン(株)
●長寿命化セラミック（ＰＩＣＭＡ）採用（湿度対策を施したピエゾセラミック） ●サブナノメートルの分解能 ●高剛性 ●摩擦及び粘着はありません ●疲労、磨耗もありません ●超高真空、ベーキング可 ●非磁性対応・高速応答性（サブミリ秒） ●高圧力 ●バックラッシュもありません ●ポジションフィードバックセンサーにより、ヒステリシス・クリーピングの問題を解消
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2in1顕微鏡 AFMQ-view ／(株)テックサイエンス
AFMと白色干渉計を1台の装置で使い分けできる。 これまでAFMで精密測定したい場所を特定するまでに時間を要したが、本機では白色干渉計にて数秒で500μm角を測定して場所を特定したのち、AFMにて精密測定ができる。
1台のプラットフォームで白色干渉計とAFMのヘッドを交換して使うことにより低価格を達成。
狭帯域光フィルタ（光ファイバー型） ／(株)日本レーザー
光ファイバー型の狭帯域光フィルタは、従来製品には無い500MHz～という狭帯域幅の特性を備え、偏波面を保持しながらトップフラットな透過特性を誇っている。さらに、耐温度特性、耐振動特性にも優れている。このような特徴から本製品は、光センシング、ガスセンシング、分光、光通信などへの応用に最適と言える。
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走査型ケルビンプローブ ／(株)テックサイエンス
走査型ケルビンプローブでは試料表面の吸着状態や金属腐食状態を計測できる。
微小チップが表面上を走査して、有機EL材料や高分子ポリマー、太陽電池セル、燃料電池など、導電物や半導体の仕事関数を測定して3次元像を作成する。
<用途>
太陽電池セル・燃料電池材料・光触媒材料 有機薄膜・ＯＥＬＤ膜の仕事関数
ITO薄膜表面の汚染・欠陥 FDPの検査・品質管理 表面の吸着状態,腐食の測定
光学結晶、ガラス加工品、蒸着品、その他 ／(株)レヨーン工業
高品質な光学結晶、光学部品を1個からリーズナブルな価格で短納期にてお客様にご提供致します。
●光学結晶：CaF2,BaF2,MgF2,ｻﾌｧｲｱ,KRS‐5,SiC,Ge,ZnSe,ZnS,Si,KBr,NaCl,ﾀﾞｲｱﾓﾝﾄﾞ,他●金属結晶（Mo,Ta,W,V,Pb,Al,Pdなど）,非線形結晶（LBO,KTP,ADPなど）,その他の特殊結晶●ｶﾞﾗｽ加工品：ﾚﾝｽﾞ,ﾌﾟﾘｽﾞﾑ,窓,ｾﾙ,ﾊﾟｲﾌﾟ,石英ｶﾞﾗｽ加工品●蒸着品：各種のﾐﾗｰ,UV～IRの各種のﾌｨﾙﾀｰ●その他：金属ﾐﾗｰ,ｴｯﾁﾝｸﾞ加工品,樹脂加工品,ﾚｰｻﾞｰﾏｰｷﾝｸﾞ