計測・制御

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走査型電子顕微鏡 JSM-6400F 日本電子(株)

走査型電子顕微鏡 JSM-6400F 日本電子(株) /トキワ真空機材(株)

6”FEタイプ

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ガスクロマトグラフィ G-3000 日立

ガスクロマトグラフィ G-3000 日立 /トキワ真空機材(株)

データー処理装置・オートインジェクタ付属 

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高分解USB CCDカメラ

高分解USB CCDカメラ /ソーラボジャパン

超小型で軽量のこのCCDカメラはUSB接続により動作し、工場オートメーション、品質管理、医療画像化、顕微鏡検査法、セキュリティ技術などといった様々な用途で御使いいただけます。
フレーム繰り返し周波数が30fpsのXGA解像度(1024x768)の1/3インチCCDセンサ、または、15fpsのSXGA解像度(1280x1024)の1/2インチCCDセンサがそれぞれカラー/白黒のモデルがご用意して御座います。
IR(赤外)フィルタは取り外しが可能です。
コンピュータはUSB2.0インターフェースを介してディジタル処理でCCDカメラと通信することができ、これによりシームレス画像の送信とカメラ設定のソフトウェア設定が可能です。本製品にはWindowとLinuxに対応する豊富なソフトウェアパッケージが標準で付属します。
デモ機をご用意しております。

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OCTシステム

OCTシステム /ソーラボジャパン

OCT(Optical Coherent Tomography)
は不透明なサンプルの断面像を高分解能、リアルタイムで視覚化する新しい光画像技術です。
生体試料、産業用現場での検査において、最大数ミリの深さまでをミクロン単位分解能で二次元、または三次元画像で表示します。
波長掃引光源OCTシステムは、波長掃引レーザ、干渉計モジュール(スキャナ部含む)、ソフトウェア開発キットが標準構成となっています。弊社OCTは様々な工業用途、生物医学用途に迅速に対応可能です。また、顕微鏡タイプ、ハンドプローブの選択または、弊社OCTエンジンと組み合わせて用途ごとに特化した独自のプローブを設計、組み合わせして頂くことも可能です。

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シャックハルトマン波面センサ

シャックハルトマン波面センサ /ソーラボジャパン

本波面センサは波面形状と強度分布を高精度・高速測定します。
この測定はマイクロレンズアレーを備えたCCDアレーに光線を集光させ、形成されたスポットの位置と強度を分析することにより行ないます。
レーザは面を動的に最適化して、レンズなどの光学要素により生じた波面歪を特性評価し、補償光学素子にリアルタイムでのフィードバック制御を可能とします。CCDには弊社新製品の高解像度USB2.0対応CCDカメラ"DCU22M"使用。
算出パラメータは以下が可能です。
1)放射強度分布と移送分布
2)モーダルまたゾーナル再生波形
3)チルト、フォーカス、非点収差、コマ収差、球面収差、その他の高次収差のゼニケル表示とフーリエ表示
デモ機をご用意しておりますので、御問い合わせ下さいませ。

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補償光学制御キット

補償光学制御キット /ソーラボジャパン

弊社ソーラボ社とBoston Micromachins Corp(BMC)と共同開発により、補償光学系キットが低価格帯での提供が可能となりました。
この補償光学キットはシャックハルトマン波面センサ「WFS150C」、BMC製の140個のMEMS静電アクチュエータで構成された可変形状ミラー「Multi-DM」、波面補正制御ソフトが基本構成となります。
補償光学キットにより、光学系に設置した可変形状ミラーを制御することにより、空気の揺らぎの補正、または、光学系を通過した時に発生する場合の収差の補正を自動制御します。
この補償光学の技術はレーザビームの形成、顕微鏡観察、天文分野または眼底検査など医療分野と幅広い分野での技革新の一助となります。
詳細に付きましては、御問い合わせ下さいませ。

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高感度酸素センサー(SiOS-200シリーズ)

高感度酸素センサー(SiOS-200シリーズ) /エスティー・ラボ有限会社

高感度酸素センサー(SiOS-200シリーズ)は、酸素伝導体セラミック(YSZ)を用いるジルコニア式酸素センサーです。酸素イオン伝導体の内外両面に、酸素分圧の異なるガスを両側に流すとネルンストの電気化学式に従い、酸素分圧比の対数に比例する起電力が生じます。本センサーでは、高感度測定回路と高気密構造の採用により高濃度酸素から極低濃度(1~1E-30atmO2)までの、広範囲濃度の測定を、レンジ切り換えなしにダイレクト測定が可能です。

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シャックハルトマン方式を凌ぐ波面センサ-(SID4)

シャックハルトマン方式を凌ぐ波面センサ-(SID4) /タレスレーザー株式会社

SID4は、画期的な新方式であるシェアリングインターフェロメトリー技術を採用し、特許のSelf Referencing技術により位相の計測が可能な波面センサ-です。優れたソフトウエアと操作性を持ち、高空間解像度(160×120)、広い波長範囲(400~1100mm)、小型・軽量・堅牢が特長です。

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自動多入射角分光エリプソメーター(VASE)

自動多入射角分光エリプソメーター(VASE) /ジェー・エー・ウーラム・ジャパン㈱

複数入射角によるデータの同時解析により真空紫外から赤外領域までを非接触・非破壊で薄膜解析できます。半導体・誘電体・ポリマー・金属・多層膜など、あらゆるタイプの物質を調べることのできる我々の最も強力で汎用性の高いエリプソメーターです。
またVASEには高い精度と分析能が、広い波長範囲(140nm~30μm)で備わっています。波長と入射角が可変なため、フレキシブルな測定が可能です。

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高速分光エリプソメーター(M-2000®)

高速分光エリプソメーター(M-2000®) /ジェー・エー・ウーラム・ジャパン㈱

M-2000®高速分光エリプソメーターは、最新の光学構成を持ち、広い波長範囲と高速測定が出来るようになりました。これらの機能をそなえたM-2000®は In-Situプロセスモニタリングや品質コントロール・面内分布測定等の理想的な装置といえます。また、分光スペクトルデータはほんの数秒で測定することができます。

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