計測・制御

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次世代型ファイバマルチチャンネル分光器 Jaz

次世代型ファイバマルチチャンネル分光器 Jaz /オーシャンフォトニクス(株)

Jaz 次世代型ファイバマルチチャンネル分光器は、オーシャンオプティクス社が開発した過去に例のないユニークなファイバ入力型のマルチチャンネル分光器です。

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ICテストソケット

ICテストソケット /ハイソル?

600種以上の豊富な金型を保有し、既製品にて各種パッケージに対応。Loranger社製ソケットは狭ピッチ、APSコンタクタによる高周波デバイス、省フットプリント等色々な特徴があり高品質、低価格でソケットのワールドワイドスタンダード。最大の特徴はAPSコンタクトマイクロプランジャーとスプリングの構成により小型で信頼性の高いコンタクトが可能。

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新技術EM受託試験

新技術EM受託試験 /ハイソル?

これまではICチップをパッケージに実装し、そのパッケージをテストボード上のソケットに挿入して測定しておりましたが、ハイソルで開発した新技術EM試験ではパッケージもソケットも不要になりました。この為、大幅なパッケージ及び実装コストを削減できるだけでなく、ソケットの劣化による測定結果のバラツキもありません。

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可変周波数C-V測定器(LCRメータ)

可変周波数C-V測定器(LCRメータ) /ハイソル?

半導体・FPD向けローコスト可変周波数LCRメータ。ケースレー半導体特性評価システム4200-SCS、又はPCにより制御・測定データ取得・リアルタイムプロットが可能です。4200-SCSのSMU(ソースメジャーユニット)又はGP-IB付きDC電圧源を使用し、DCバイアス電圧を印加する事によりC-V測定をはじめとする各種LCR測定を行う事が可能です。測定周波数帯により3機種をご用意しております。

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半導体パラメータアナライザ 4200-SCS

半導体パラメータアナライザ 4200-SCS /ハイソル?

ケースレー4200-SCS 半導体特性評価システムは高精度でサブフェムトアンペア分解能、研究室グレードのDC デバイス特性評価、リアルタイムプロット、解析を簡単操作で実行。Windows XP OSと大容量記憶装置を含む組込型PCを装備し、先進の機能をフルに統合した半導体パラメータアナライザ。SMUは最大8chまで増設可能。2chパルスジェネレータやオシロスコープ、C-Vパッケージの組込み可能。

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小型マニュアルプローバ HMP-400

小型マニュアルプローバ HMP-400 /ハイソル?

簡単操作で高精度I-V・C-V測定が可能な小型マニュアルプローバです。最大4インチ、オプションで6インチまでのワークサイズに対応します。10fA?の微小電流測定,サブpF?の容量測定が可能です。オプションで-60℃?+200℃の高低温試験にも対応可能。

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精密位置決めステージ

精密位置決めステージ /?サイエンスラボラトリーズ

サブミクロンの精度で位置決め可能なステップモーター精密位置決めデバイスです。
リニアアクチュエータ、リニアステージ、回転ステージ、チルトミラーマウント、チルトゴニオメータ、などなど斬新かつ最新技術を採用した製品が揃っています。ソフトウェアも充実しており、Labview、VB、Excel、C言語、Qbasicなど様々な言語に対応したソフトウェアを無料で提供しております。
RS232、USBで簡単にPC接続可能であり、複数台の連結動作も簡単操作で可能です。安価に精密・正確にサブミクロン位置決めができます。

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高精細顕微鏡用冷却デジタルカラーカメラ/モジュール

高精細顕微鏡用冷却デジタルカラーカメラ/モジュール /(株)アド・サイエンス

デジタルカメラ(ProgResシリーズ)は顕微鏡用デジタルカメラでペルチェ素子冷却によりノイズの少ない高精細な画像を撮影でき、明視野観察から蛍光観察までご利用いただけます。最大1250万画素の高解像度のカメラや、カラー/モノクロ、冷却/非冷却、CCD/CMOS等各種仕様の製品が揃っております。 モジュール(IMシリーズ)は、冷却顕微鏡用カメラに使用されており、単なるボードカメラではなく、アナログゲイン・高感度・高ダイナミックレンジであるので高品質の画像が得られます。
<用途>
●生命科学:遺伝学・病理学・生物学・細胞生態学・微生物学・細菌学
●材料科学:金相学・地質学・鉱物学・品質管理
●犯罪科学:科学捜査・法医学

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短波長サーモグラフィ VarioTHERM head

短波長サーモグラフィ VarioTHERM head /(株)日本レーザー

波長感度域が2.5?5.0μmの特殊用途向けサーモグラフィです。
主として、石英ガラス越しの温度測定、ガラス表面の温度測定、薄膜フィルムの温度測定、火炎(燃焼ガス)越しの温度測定などに威力を発揮します。

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レーザー超音波検査装置

レーザー超音波検査装置 /(株)日本レーザー

パルスレーザーを検査対象物の表面に照射することによって発生する超音波を利用して、対象物の内部異常・欠陥などを検査する非破壊検査装置です。
表面に照射されたパルスレーザーによって発生した超音波は、物質内部の異常部位・欠陥部に到達した後、再び表面に戻ってきて、表面状態に微小な変位を生じさせます。この微小な変位を、プローブ用のレーザーを利用してレシーバーに取込むことで、欠陥検出を行うことができます。自動車・航空機・造船・石油・ガス・製鉄・電子部品・半導体など、多くの業界で使用可能です。

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