半導体A(シリコン)

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スポット温度環境試験装置

スポット温度環境試験装置 /ヤーマン(株)

広い温度範囲(-90℃~+225℃)と速い温度可変時間(-55度+125℃、4秒以下)を持った、業界最高スペックの温度環境試験装置。カラーグラフィックタッチパネルを用いているためどなたでも簡単に操作可能。サイクル試験機能、IEEE488インターフェース標準装備。

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セミコン・ジャパン 2009

セミコン・ジャパン 2009 /SEMIジャパン

今年で33回目を迎える世界最大の半導体製造装置・材料に関するイベント「セミコン・ジャパン」が、12月2日(水)~4日(金)に開催されます。幕張メッセの2~8ホールを使用し、半導体製造装置・材料メーカーを中心に、MEMS、ナノテクノロジー、有機半導体、ナノインプリントなど、関連産業の製品・技術・サービスを網羅した展示が行われます。(展示会 入場無料、オンライン登録制)

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ライフタイム測定器 WCT-120

ライフタイム測定器 WCT-120 /ミワオプト(株)

WTC-120 は、デバイス研究および工程管理に適した、お手頃価格で購入できる卓上型シリコン用ライフタイム測定器です。本機器を使えばボタンひとつで、抵抗、ライフタイム、トラップ密度およびエミッター飽和電流密度を含むシリコンウェーハの主な特性を検出できます。

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各種ウェハーサービス

各種ウェハーサービス /ミワオプト(株)

各種サイズのSiウェハーの提供。膜厚加工サービス。

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ストークス型オートステージエリプソメータ LMSE-WS-TF

ストークス型オートステージエリプソメータ LMSE-WS-TF /ミワオプト(株)

研究室から生産ラインまで幅広く対応。ストークス法を採用して高速、高精度及び高再現性を実現。全世界で2500台以上の納入実績が有ります。レーザを使用した多波長タイプにも対応。UVからIRまで幅広く対応。300mmより大口径にも対応。更に大口径も対応が可能。

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薄膜計測システム MTFW-50

薄膜計測システム MTFW-50 /ミワオプト(株)

干渉膜厚計でエリプソメータのオプションで装着が可能。単体としても各種カスタマイズが出来ます。

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エポキシダイボンダー

エポキシダイボンダー /ハイソル㈱

操作性、汎用性に優れた、研究開発用マニュアルダイボンダー(手動ダイボンダー)です。接着剤のディスペンス及びチップのピックアップが1ヘッドに組み込まれており、0.3mm角のチップも容易にハンドリング可能です。 尚、ダイボンディング後に使用するワイヤーボンダーも各種取り揃えております。

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CV/IV測定器および水銀プローブ

CV/IV測定器および水銀プローブ /ノヴァトレーディング

MDC社は、いち早く商用のC-Vプロッティングシステムを開発し、以後30年近くにわたり、C-V/I-Vプロッティングシステムを開発・製造・販売を行っている会社です。

・Low-k 素材の評価に最適
・802B型 水銀プローブ
測定時に電極の製作が不要な為、水銀プローブの需要が高まっています。MDC社では、水銀電極を単体でも販売しています。
・Low k膜の誘電率測定に最適
・ゲート電極不要 802型シリーズ水銀電極

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中古イオンスパッタ装置から大型真空装置まで取扱い御座います。

中古イオンスパッタ装置から大型真空装置まで取扱い御座います。 /(株)テイクオフ

中古機器導入でのコスト削減を!テイクオフは中古販売専門店です。中古理化学・分析機器多数ご用意しております。光学部品などのパーツ、ユニットまでリ・ユース!!HPでの在庫確認はもちろん、店舗で現物ご確認いただけます。他店にはパソコン・プリンタなどOA機器まで揃っているので、新規立上げにとても便利です!民間・法人・大学ともお取引実績多数!ご不要な機器の買取・撤去も承ります。まずは一度ご相談ください。

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原子層堆積装置(ALD) 型式: FlexAL, OpAL

原子層堆積装置(ALD) 型式: FlexAL, OpAL /オックスフォード・インストゥルメンツ(株)

弊社のALD装置は独自開発のRemote Plasmaプロセスによる成膜が可能なことを特長としている。また一般的なThermalプロセスも同一のプロセスチャンバーにて成膜できる。Plasmaを使用することによりプリカーサの反応特性に優れる為
1) 幅広いプリカーサ及び膜種への対応が可能。
2) Thermalプロセスと比較してより低温で同等の膜質を得ることが可能となっている。
装置の種類としては
A) 研究用途向けオープンロード式ALD: OpAL
B) 研究~少量生産向けロードロック式ALD: FlexAL
の2タイプがある。

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